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Elektrophysik德國MiniTest 730測厚儀優(yōu)質供應商
篤摯儀器(上海)有限公司代理的MiniTest 730測厚儀。SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據生產。
Elektrophysik德國MiniTest 730測厚儀優(yōu)質供應商
MiniTest 730測厚儀的SIDSP工作原理
MiniTest 730測厚儀的SIDSP跟傳統(tǒng)技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術,同時應用在現(xiàn)代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
MMiniTest 730測厚儀的特點:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統(tǒng)計值能單獨調出
-超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件
MiniTest 730測厚儀的探頭介紹:
MINITEST730系列:統(tǒng)計型,外置一體式探頭
MiniTest 730 F 1.5 鐵基涂層,0...1500 μm
MiniTest 730 N 07 非鐵基涂層,0...700 μm
MiniTest 730 FN 1.5 兩用型,0...1500 μm (F),0...700 μm (N)
MiniTest 730 F2 鐵基涂層,0...2000 μm
MiniTest 730 F5 鐵基涂層,0...5000 μm
MiniTest 730 N 2.5 非鐵基涂層,0...2500 μm
MiniTest 730 FN 5 兩用型,0...5000 μm (F),0...2500 μm (N)
MiniTest 730 F15 鐵基涂層,0...15 mm
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篤摯儀器(上海)有限公司
:張磊
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