elektrophysik測厚儀

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elektrophysik測厚儀MiniTest740

為了質量控制和檢驗的靈活性，MiniTest740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。SIDSP探頭具有*的抗干擾性、SIDSP－測量信號高穩定性、預設選項節省您的時間和金錢、SIDSP探頭對溫度變化不敏感、SIDSP探頭適應性強、SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償。

elektrophysik測厚儀MiniTest740主機參數

型號特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內置	外置	內置外置可換
數據記憶組數	10	10	100
存儲數據量	zui多10,000個	zui多10,000個	zui多100,000個
統計值	讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
極限值監控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數據接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內置）/230g（外置）