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MiniTest 420超聲波測厚儀Elektrophysik代理供應(yīng)
MiniTest 400系列是德國EPK公司推出的型超聲波測厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡便，速度快，可靠性高等特點。
標(biāo)準(zhǔn)配置 可選配置
儀器主機 小管徑探頭
帶連接電纜的探頭一支 管內(nèi)壁探頭
耦合劑(75ml) 鑄鐵探頭
2節(jié)5號電池 高溫耦合劑等
通訊電纜，通訊軟件（僅限400A/B）
塑料手提箱
中英文說明書
保修卡
高精準(zhǔn)超聲波測厚儀
高阻抗雙晶探頭
脈沖－回波方式 量程達(dá)0.65-500mm
回波－回波方式(透過涂層測量) 量程達(dá)3-25mm
堅固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實驗室及工業(yè)現(xiàn)場使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗。
MiniTest 420超聲波測厚儀Elektrophysik代理供應(yīng)
技術(shù)參數(shù)
項目 | 參數(shù) | 400 | 400A | 400B | |
零位校準(zhǔn) | 開機自動零位校準(zhǔn) |
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測量參數(shù) | 發(fā)射－回波模式，量程0.65-500mm | 標(biāo)準(zhǔn)測量：滿足常用的檢測要求 | ● | ● | ● |
zui小值測量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測量環(huán)境 | ● | ● | ● | ||
差分測量：顯示實際測量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值 |
| ● | ● | ||
平均測量：提供2-9點的測量平均值 |
| ● | ● | ||
上下限測量：極限報警 |
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回波－回波模式，量程3-25mm | 透過涂層測量基體厚度 |
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快速掃查模式 | 適用于高溫或需要提高測量速度的測量環(huán)境，每秒10次的測量，可以同時顯示測量中的zui大值和zui小值 | ● | ● | ||
數(shù)據(jù)存儲 | 10組5000個數(shù)據(jù)，動態(tài)分配 | ● | ● | ||
數(shù)據(jù)輸出 | USB接口，通過USB接口上傳儀器中存儲的數(shù)據(jù)到計算機 |
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顯示信息 | 測量值，聲速值，探頭型號，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組 | ||||
示值精度 | 小于99.99mm時為0.01mm;大于100mm時為0.1mm | ||||
單位 | 公制/英制 | ||||
聲速范圍 | 1000m/s - 9999m/s | ||||
增益 | 自動；手動可調(diào) | ||||
聲速測量 | 確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值 | ||||
探頭識別 | 自動識別探頭 | ||||
關(guān)機選擇 | 可選擇2分鐘，5分鐘自動關(guān)機或選擇不自動關(guān)機 | ||||
外形尺寸 | 130 × 73 × 24 mm(L×W×H) | ||||
重量 | 約190g | ||||
工作溫度 | -20至50攝氏度 | ||||
電池 | 兩節(jié)5號電池，電量顯示，電量不足報警 | ||||
工作時間 | 不間斷測量不少于80小時 | ||||
顯示屏 | 128×64 背光 | ||||
可選探頭：
型號 | 晶體直徑 | 頻率 | 測量范圍 | 工作溫度 | 簡介 |
EP8E | 8MM | 5.0MHZ | 3-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E) | -12～+60℃ | 400B標(biāo)配探頭，400B*探頭，具有透過涂層測量模式。zui小測量管外徑20mm |
EP4 | 4MM | 10.0MHZ | 0.65-20MM | -12～+60℃ | 小管徑探頭。zui小測量管外徑10mm |
EP6 | 6MM | 7.5MHZ | 0.65-50MM | -12～+60℃ | 主要用于薄壁及小弧面的測量. zui小測量管外徑15mm |
EP8 | 8MM | 5.0MHZ | 0.8-350MM | -12～+60℃ | 400,400A標(biāo)配探頭，主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測量管外徑20mm |
ECP12 | 12MM | 2.0MHZ | 2.0-500MM | -12～+60℃ | 粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量。zui小測量管外徑30mm |
EHP13 | 13MM | 5.0MHZ | 3.0-200MM | -12～+350℃ | 高溫探頭，主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量， 注：測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間 |
